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 韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER IP MINI
 
产品介绍：
 
干涉式测绘仪器，厚度是一个典型的与长度有关的参数，对它的测量是在各种工业领域进行的，如汽车、航空、造船、半导体和显示器行业。在各种测量技术中，光学干涉测量法非接触式的光学干涉测量法的性质不会损害样品。Xper-IP Mini是这种干涉测量方法的成果
 
，用于测量厚的透明层的厚度。
 
产品参数：
 
规格
- 分辨率（Z） : 10纳米
- 精度（Z）：满刻度的±0.2 %。
- 离地距离：离物镜最远可达150毫米
- 测量范围 (Z) : 0.03 mm ~ 1.2 mm
- 测量速度：100 Hz
 
韩国 NANOBASE 光电流测量仪 型号 XPER PC
 
产品介绍：
 
光电流是通过光敏器件(如光电二极管)的电流，是暴露在辐射功率下的结果。换句话说，光电流是由光产生的电流。当光照射到材料上时，材料获得能量，能量被传递给电子，电子变成自由电子，并开始传导光子产生的电流。光电流的广泛应用是太阳能发电和晶体管表
 
征。
 
产品参数：
 
由显微镜，系统平台，光电流模块，激光扫描模块，拉曼激光器和滤波器组等设备组成
 
韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER FILM... [详细介绍]