韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER IP MINI
产品介绍:
干涉式测绘仪器,厚度是一个典型的与长度有关的参数,对它的测量是在各种工业领域进行的,如汽车、航空、造船、半导体和显示器行业。在各种测量技术中,光学干涉测量法非接触式的光学干涉测量法的性质不会损害样品。Xper-IP Mini是这种干涉测量方法的成果
,用于测量厚的透明层的厚度。
产品参数:
规格
- 分辨率(Z) : 10纳米
- 精度(Z):满刻度的±0.2 %。
- 离地距离:离物镜最远可达150毫米
- 测量范围 (Z) : 0.03 mm ~ 1.2 mm
- 测量速度:100 Hz
韩国 NANOBASE 光电流测量仪 型号 XPER PC
产品介绍:
光电流是通过光敏器件(如光电二极管)的电流,是暴露在辐射功率下的结果。换句话说,光电流是由光产生的电流。当光照射到材料上时,材料获得能量,能量被传递给电子,电子变成自由电子,并开始传导光子产生的电流。光电流的广泛应用是太阳能发电和晶体管表
征。
产品参数:
由显微镜,系统平台,光电流模块,激光扫描模块,拉曼激光器和滤波器组等设备组成
韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER FILM
产品介绍:
TRPL测量仪器
Xper-FLIM提供TRPL测量功能Xper-FLIM采用NANOBASE的激光扫描模块,确保获得数据。
正如我们生产的其他仪器产品一样,Xper-FLIM也是完全可定制的,以适应您的研究目标。
产品参数:
由显微镜,系统平台,光电探测器,激光扫描模块,拉曼激光器和滤波器组等设备组成
韩国 NANOBASE 光谱仪 型号 XPER RAM M
产品介绍:
XperRAM M系列是为拉曼研究设计的仪器。它只有拉曼光谱的基本部分-光谱仪、检测器、激光器和过滤器,因此使用XperRAM M系列,您可以通过程序完成样品的拉曼光谱采集。XperRAM M系列提供532纳米和785纳米激光选项,但它完全可以定制为其他激光波长选项。
产品参数:
用于532纳米激光激发
- 光谱仪(焦距35毫米或100毫米)
- 检测器
- 532纳米光纤耦合拉曼激光器
- 532纳米拉曼探头
- NanoSpectrum软件套件
用于785nm激光激发
- 光谱仪(焦距85毫米)
- 检测器
- 785纳米光纤耦合拉曼激光器
- 785纳米拉曼探头
- NanoSpectrum软件套件
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